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掃描電子顯微鏡精心合理的設(shè)計(jì)

 更新時(shí)間:2018-05-29 點(diǎn)擊量:2739
   掃描電子顯微鏡精心合理的設(shè)計(jì)    
   掃描電子顯微鏡是用極細(xì)的電子束在樣品表面掃描,將產(chǎn)生的二次電子用特制的探測器收集,形成電信號運(yùn)送到顯像管,在熒光屏上顯示物體。(細(xì)胞、組織)表面的立體構(gòu)像,可攝制成照片。
   掃描電子顯微鏡樣品用戊二醛和餓酸等固定,經(jīng)脫水和臨界點(diǎn)干燥后,再於樣品表面噴鍍薄層金膜,以增加二波電子數(shù),掃描電鏡樣品用戊二醛和餓酸等固定,經(jīng)脫水和臨界點(diǎn)干燥后,再于樣品表面噴鍍薄層金膜,以增加二波電子數(shù)。掃描電子顯微鏡能觀察較大的組織表面結(jié)構(gòu),由於它的景深長,1mm左右的凹凸不平面能清所成像,故放樣品圖像富有立體感。掃描電鏡能觀察較大的組織表面結(jié)構(gòu),由于它的景深長,1mm左右的凹凸不平面能清所成像,故放樣品圖像富有立體感。
   掃描電子顯微鏡自動(dòng)定性分析是根據(jù)能量位置來確定峰位,直接單擊"操作/定性分析"按鈕,即可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)定性分析,在譜的每個(gè)峰的位置顯示出相應(yīng)的元素符號。
   掃描電子顯微鏡優(yōu)點(diǎn)是識別速度快,但由于能譜譜峰重疊干擾嚴(yán)重,自動(dòng)識別極易出錯(cuò),比如把某元素的L系誤識別為另一元素的K系,這是它的缺點(diǎn)。為此分析者在儀器自動(dòng)定性分析過程結(jié)束后,還必須對識別錯(cuò)了的元素用手動(dòng)定性分析進(jìn)行修正。所以雖然有自動(dòng)定性分析程序,但對分析者來說,具有一定的定性分析技術(shù)實(shí)在是*的。
   掃描電子顯微鏡是通過X射線強(qiáng)度來獲取組成樣品材料的各種元素的濃度,根據(jù)實(shí)際情況,人們尋求并提出了測量未知樣品和標(biāo)樣的強(qiáng)度比方法,再把強(qiáng)度比經(jīng)過定量修正換算呈濃度比。掃描電子顯微鏡兩種定量分析方法:無標(biāo)樣定量分析法和有標(biāo)樣定量分析析法。
   電子束只打到試樣上一點(diǎn),得到這一點(diǎn)的X射線譜的分析方法是點(diǎn)分析方法。與此不同的是,用掃描像觀察裝置,使電子束在試樣上做二維掃描,測量特征X射線的強(qiáng)度,使與這個(gè)強(qiáng)度對應(yīng)的亮度變化與掃描信號同步在陰極射線管上顯示出來,就得到特征X射線強(qiáng)度的二維分布的像。這種觀察方法稱為元素的面分布分析方法,它是一種測量元素二維分布的非常方便的方法。
 

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